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    CMOS平板探測器
    CMOS X射線相機由單個半導體硅片制成,可直接探測可見光或配合閃爍晶體用于探測X光和其它高能輻射。針對不同應用,可配備不同厚度Gadox或針狀CsI閃爍體,是醫學診斷,工業檢測,科學成像的理想解決方案,標準能量測試范圍...
    CMOS X射線相機由單個半導體硅片制成,可直接探測可見光或配合閃爍晶體用于探測X光和其它高能輻射。針對不同應用,可配備不同厚度Gadox或針狀CsI閃爍體,是醫學診斷,工業檢測,科學成像的理想解決方案,標準能量測試范圍...
    CMOS X射線相機由兩個半導體硅片制成拼接而成,可直接探測可見光或配合閃爍晶體用于探測X光和其它高能輻射。針對不同應用,可配備不同厚度Gadox或針狀CsI閃爍體,是醫學診斷,工業檢測,科學成像的理想解決方案,標準能量...
    CMOS X射線相機由單個半導體硅片制成,可直接探測可見光或配合閃爍晶體用于探測X光和其它高能輻射。針對不同應用,可配備不同厚度Gadox或針狀CsI閃爍體,是醫學診斷,工業檢測,科學成像的理想解決方案,標準能量測試范圍...
    CMOS X射線相機由四個半導體硅片制成拼接而成,可直接探測可見光或配合閃爍晶體用于探測X光和其它高能輻射。針對不同應用,可配備不同厚度Gadox或針狀CsI閃爍體,是醫學診斷,工業檢測,科學成像的理想解決方案,標準能量...
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